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File:HL-760S 自動化晶片檢測系統.png

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HL-760S_自動化晶片檢測系統.png (450 × 450像素,文件大小:136 KB,MIME类型:image/png


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摘要

描述
English: HL760S_3D Lead Scan and Mark Inspection System
日期
来源 https://www.hilosystems.com/zh-tw/product/13
作者 未知Unknown author

许可协议

w:zh:知识共享
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HL760S_3D Lead Scan and Mark Inspection System

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文件来源 简体中文(已转写)

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当前2024年11月7日 (四) 05:562024年11月7日 (四) 05:56版本的缩略图450 × 450(136 KB)Irie HuangUploaded a work by {{Unknown|author}} from https://www.hilosystems.com/zh-tw/product/13 with UploadWizard

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